高速原子間力顕微鏡
Probe-Scanning NanoExplorer "PS-NEX" - Ando model -


~細胞ダイナミクスを解き明かす『高速(動画)原子間力顕微鏡』~




PS-NEX

高速原子間力顕微鏡 NanoExplorer* (NEX) -Ando model- は、 金沢大学教授・安藤敏夫先生 により開発された装置です。
従来型AFM**の最大の欠点である“走査速度の遅さ”を克服したことで、溶液中でしか起こり得ない反応や構造変化のリアルタイム動画観察を実現しました。

短時間で画像取得が出来るため、試料の揺らぎや振動に強く、基板への強固なアンカリングが不要になります。
このため、 生体試料の反応性を損なうことなく観察できます。

プローブスキャン型高速AFM NanoExplorer『PS-NEX』は 弊社従来製品(サンプルスキャン型高速AFM NanoExplorer『SS-NEX』)の機能をそのままに、数々の特徴を盛り込んでいます。
お手持ちの光学顕微鏡にも組込むことができ、高速原子間力顕微鏡による動画と蛍光イメージング像を同時に取得することができます。



* NanoExplorerは、(株) 生体分子計測研究所の登録商標です。  ** Atomic Force Microscope (AFM) : 原子間力顕微鏡


特徴

新機能

  • ミラーチルト方式
    カンチレバーの変位に合わせたミラー同期によるレーザー追従高速スキャン
  • 小型・軽量AFMヘッド
    軽量コンパクトサイズ設計で試料セットが容易
    従来製品と体積比で約1/10のサイズダウン
  • 高速かつ安定なフィードバック制御
    高速走査下でのサンプル表面の精密かつ忠実な観察を実現
  • 高速スキャン用極微小カンチレバー
    柔らかい試料も低ダメージ観察
      ・共振周波数(大気中1500KHz・溶液中500KHz)
     ・ばね定数(0.1N/m)
     ・先端曲率半径(<10nm)

光学顕微鏡との組み合わせ使用

  • 蛍光標識した部位をナノスケール観察
  • 各社の倒立型光学顕微鏡に対応(オプション)

試料サイズ・基板の制約の大幅緩和

  • スライドガラスやシャーレ上の試料を観察可能
    対応基板:スライドガラス・カバーガラス・シャーレ・半導体ウェーハなど

プローブスキャンと広域ステージスキャンの実現

  • 観察領域の迅速な特定
  • 最大カバー領域:60μm X 60μm

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標準装置仕様

スキャン方式 高速スキャン(AFM観察):プローブスキャン
低速スキャン(位置調整):ステージスキャン
高速走査(プローブスキャン) スキャン範囲:X: 5μm Y: 7μm Z: 2μm
スキャン速度:150 ms/frame (6.7 frames/sec)
低速走査(ステージスキャン) スキャン範囲:X: 60μm Y: 60μm
スキャン速度:60 s/frame
試料サイズ 36 mm X 36 mm X 3mm (直径 50 mm)
試料ステージ動作範囲 20 mm X 20 mm
観察環境 溶液中
プローブ検出方式 ミラーチルト光学検出式(光てこ式)
観察モード AC モード (形状像、誤差像、位相像)
レーザー 790 nm(赤外)
光学顕微鏡 当社標準仕様品
ラック、除振台 設置環境に応じて変更可能
 

      注1:スキャナの走査範囲は代表値です。
      注2:スキャン速度は各スキャナ毎に決められた条件下での値であり、最大走査範囲での走査速度を保証するものではありません。


オプション

全反射照明蛍光顕微鏡 複数社選択可。お問合せ下さい。。
試料ステージ ご用途に合わせ対応可。お問合せ下さい。。

 

お問い合わせ


* 仕様・構成・価格は予告なしに変更される場合があります。

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