MS-NEX

選び抜かれた機能で測る モジュールシステム高速AFM

高速原子間力顕微鏡(AFM*)は、サンプルの「ナノスケールの動態」を
大気中でも溶液中でも「動画」で可視化できる顕微鏡です。

高速AFM「MS-NEX」は、従来品であるSS-NEX(サンプルスキャン型Nano Explorer**)の機能をよりシンプルに使いやすくしました。
モジュールシステムを採用し、必要な機能だけ選べるのが特長です。
研究テーマや進捗、ご予算に応じてモジュールを組み合わせることで、研究の「今」にマッチした高速AFMをお使いいただけます。

*Atomic Force Microscope (AFM) : 原子間力顕微鏡
** 高速原子間力顕微鏡 NanoExplorer (NEX) は、金沢大学・安藤敏夫 特任教授により開発された装置です。

 

特長

1. モジュールの組み合わせ自由自在

モジュールシステムを採用しているMS-NEXは、必要に応じて各種機能(モジュール)を加えられます。
研究の進捗やご予算に応じて「後から機能を追加」することもできます。
「この機能だけ必要」「シンプルな構成がよい」というご要望にフレキシブルにお応えいたします。

モジュールの組み合わせ例

 

2. ガイド機能搭載でビギナーの方も安心

MS-NEXは、操作方法をアシストするガイド機能を搭載しています。ビギナーの方でも簡単に操作することができます。
サンプルの準備から測定までスムーズな操作を実現します。

標準装置仕様

走査速度

1 s / frame (1 frame / sec )
(走査範囲: XY: 500 nm × 500 nm, フレーム:200 px × 200 pxの条件下)

最大走査範囲 XY : 4 µm × 4 µm, Z : 0.7 µm
画像分解能 XY : 500 px × 500 px
測定環境 溶液中(測定中に溶液注入可能)/ 大気中
観察溶液容量 150 μL
試料サイズ 直径1.5 mm

カンチレバー振幅検出方式

サンプルホールド方式
プローブ検出方式 光学検出式 (光てこ方式)
スキャン方式 サンプルスキャン
制御方式 PID / ダイナミックPID制御
測定モード AC モード(形状像、誤差像、位相像)

注1: 最大走査範囲は代表値です
注2: 走査速度は決められた条件下での値であり、最大走査範囲での走査速度を保証するものではありません

オプション

ハイスピードモジュール

  • 走査速度を上げられます
  • 速い走査速度が必要な酵素反応や構造変化を観察するのに適しています

 

  1. 走査速度  : 50 ms / frame (20 frames / sec)
  2. 最大走査範囲: XY: 0.7 μm × 0.7 μm, Z: 0.4 μm

広範囲測定モジュール

  • 最大走査範囲を広げられます
  • 広い観察領域が必要な測定に適しています

 

  1. 走査速度  : 10 ms / frame (0.1 frames / sec)
  2. 最大走査範囲: XY: 30 µm × 30 µm, Z: 0.7 µm
灌流モジュール
  • 測定中に溶液を交換できます
  • pHや塩濃度の変化をトリガーとするサンプルの変化を観察するのに適しています
温度調節モジュール
  • 溶液を加温できます
  • 対応温度: 室温~40℃
光照射モジュール
  • 紫外線、可視光など、様々な励起光をサンプルに照射できます
  • ケージド化合物や光異性化分子を用いた測定に適しています

注3: 各モジュールの最大走査範囲は代表値です
注4: 走査速度は決められた条件下での値であり、最大走査範囲での走査速度を保証するものではありません

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